1、引言
本技術(shù)條件適用于額定電壓3~35kV,頻率50Hz的真空斷路器用真空滅弧室。
真空負(fù)荷開關(guān)用真空滅弧室可參照本技術(shù)條件執(zhí)行。
真空滅弧室除應(yīng)滿足GB1984-80《交流高壓斷路器》及其第一號(hào)修訂和JB3855-85《10kV戶內(nèi)高壓真空斷路器通用技術(shù)條件》的要求外,還應(yīng)滿足本技術(shù)條件的要求。
2、基本分類和額定參數(shù)
2.1、基本分類
真空滅弧室的基本分類見表1。
表1
分類方式 |
基本類型 |
按外殼材料分 |
玻璃外殼、陶瓷外殼 |
按用途分 |
單斷口真空斷路器、多斷口真空斷路器用 |
2.2、額定參數(shù)
2.2.1、額定電壓
單斷口真空斷路器用真空滅弧室的額定電壓見表2。
多斷口真空斷路器用真空滅弧室的額定電壓用真空斷路器的額定電壓/每相斷口數(shù)表示(如用于35kV雙斷口真空斷路器的真空滅弧室的額定電壓用35kV/2表示)。
表2 KV
相數(shù)
三相
單相
額定電壓
3、6、10、20(15)、35
27.5
最高工作電壓
3.5、6.9、11.5、23(17.5)、40.5
30.5
注:括號(hào)內(nèi)的數(shù)值盡量少用。
2.2.2、額定絕緣水平
按GB311.1-83《高壓輸變電壓設(shè)備的絕緣配合》和GB1984及其第一號(hào)修訂的規(guī)定。
2.2.3、額定電流
200、400、630、1000、1250、1600、2000、2500、3150、4000A。
注:1000A在新產(chǎn)品中盡量少用
2.2.4、額定短路開斷電流
3.15、6.3、8、10、12.5、16、20、25、31.5、40、50kA。
2.2.5、額定短路關(guān)合電流
按GB1984及其第一號(hào)修訂的規(guī)定。
2.2.6、額定熱穩(wěn)定時(shí)間和額定熱穩(wěn)定電流
額定熱穩(wěn)定時(shí)間按GB1984及其第一號(hào)修訂的規(guī)定。額定熱穩(wěn)定電流等于額定短路開斷電流。
2.2.7、額定動(dòng)穩(wěn)定電流
額定動(dòng)穩(wěn)定電流(峰值)為其額定開斷電流周期分量有效值的2.5倍。
2.2.8、額定短路開斷電流開斷次數(shù)
額定短路開斷電流等于或小于20kA的產(chǎn)品; 12、16、30次。
額定短路開斷電流等于或大于25kA的產(chǎn)品; 8、12、20次。
2.2.9、額定電流開斷次數(shù)
3000、5000、10000、20000次。
2.2.10、額定電容器組開斷電流
200、400、630、800A。
注:此項(xiàng)參數(shù)僅適用于有開斷電容器組要求的真空滅弧室。
2.2.11、機(jī)械壽命
5000、6000、10000、20000、40000次。
注:5000次在新產(chǎn)品中盡量少用。
2.2.12、燃弧時(shí)間
真空滅弧室的燃弧時(shí)間必須滿足真空斷路器的全開斷時(shí)間的要求。
2.2.13、允許儲(chǔ)存期
10、20年
在允許儲(chǔ)存期內(nèi),真空度不得低于6.6×10-2Pa(5×10-4torr)。
3、技術(shù)要求
3.1、一般結(jié)構(gòu)要求
3.1.1、產(chǎn)品的制造與裝配應(yīng)符合按規(guī)定程序批準(zhǔn)的圖紙和文件。
3.1.2、產(chǎn)品的外形和安裝尺寸應(yīng)符合有關(guān)圖紙要求,同型號(hào)產(chǎn)品的外形和安裝尺寸應(yīng)統(tǒng)一。
3.1.3、玻璃真空滅弧室外殼上不應(yīng)有明顯的劃痕、汽泡、蒸發(fā)物及失透現(xiàn)象,內(nèi)部零件現(xiàn)象,內(nèi)部零件不應(yīng)氧化、變形。
3.1.4、陶瓷真空滅弧室外殼的陶瓷表面應(yīng)有均勻的釉層,且釉層不允許有裂紋、變質(zhì)等現(xiàn)象,內(nèi)部零件不應(yīng)氧化、變形。
3.1.5、產(chǎn)品外表非導(dǎo)電的易銹蝕金屬表面應(yīng)有可靠的抗銹蝕被覆層。
3.1.6、排氣管上必須設(shè)置能防止排氣管封離口受損傷的保護(hù)裝置。
3.1.7、真空炒弧室必須具有足夠的機(jī)械強(qiáng)度,其縱向安全靜壓力由產(chǎn)品技術(shù)條件規(guī)定。
3.2、真空滅弧室的主要機(jī)械特性由產(chǎn)品技術(shù)條件規(guī)定,主要機(jī)械特性應(yīng)包括:
a.觸頭行程;
b.觸頭自閉力;
c.按3.2a規(guī)定觸頭行程時(shí)的觸頭反力;
d.動(dòng)、靜觸頭允許磨損厚度。
3.3、機(jī)械操作參數(shù)
在產(chǎn)品技術(shù)條件中應(yīng)給出配用的真空斷路器的下列機(jī)械操作參數(shù):
a.平均分閘速度;
b.平均合閘速度;
c.額定觸頭壓力;
d.允許的觸頭合閘彈跳時(shí)間。
3.4、真空滅弧室在長(zhǎng)期工作時(shí)發(fā)熱應(yīng)符合GB763-74《交流高壓電器在長(zhǎng)期工作時(shí)的發(fā)熱》及其第一號(hào)修訂的規(guī)定,滅弧室內(nèi)部載流部分的溫升不作規(guī)定。在產(chǎn)品技術(shù)條件中應(yīng)規(guī)定在觸頭自閉力下或在額定觸頭壓力下的回路電阻。
4、試驗(yàn)方法及檢驗(yàn)規(guī)則
4.1、型式試驗(yàn)項(xiàng)目
a.機(jī)械試驗(yàn)和機(jī)械強(qiáng)度試驗(yàn);
b.允許儲(chǔ)存期檢查;
c.回路電阻測(cè)量;
d.長(zhǎng)期工作時(shí)的發(fā)熱試驗(yàn);
e.絕緣試驗(yàn);
f.短路開斷及關(guān)合能力試驗(yàn);
g.短路開斷電流和額定電流開斷次數(shù)試驗(yàn);
h.開合電容器組電流試驗(yàn);
注:只對(duì)具有開合電容器組電流要求的真空滅弧室才進(jìn)行此項(xiàng)試驗(yàn)。
i.動(dòng)、熱穩(wěn)定試驗(yàn);
j.氣候試驗(yàn)及溫度變化試驗(yàn)。
4.2、在下列情況下應(yīng)進(jìn)行型式試驗(yàn):
a.新產(chǎn)品;
b.轉(zhuǎn)產(chǎn)試制產(chǎn)品;
c.當(dāng)關(guān)鍵材料和關(guān)鍵元件(如觸頭材料、波紋管)或設(shè)計(jì)和工藝改變時(shí)應(yīng)作相應(yīng)項(xiàng)目的形式試驗(yàn);
d.正常生產(chǎn)的產(chǎn)品,每隔一年至一年半應(yīng)進(jìn)一次縱向安全靜壓力試驗(yàn)、機(jī)械壽命試驗(yàn)、溫度變化試驗(yàn),其它項(xiàng)目也可抽試。
4.3、型式試驗(yàn)的試品
全部型式試驗(yàn)允許在二至三組真空滅弧室上進(jìn)行,每組真空滅弧室數(shù)為組裝一臺(tái)真空斷路器用的數(shù)量。對(duì)每一組真空滅弧室進(jìn)行的試驗(yàn)項(xiàng)目不作具體規(guī)定,但絕緣試驗(yàn)、短路電流開斷、關(guān)合試驗(yàn)和額定短路開斷電流開斷次數(shù)試驗(yàn)應(yīng)在同一組試品上進(jìn)行,機(jī)械壽命試驗(yàn)和長(zhǎng)期工作時(shí)的發(fā)熱試驗(yàn)也應(yīng)在同一組試品上進(jìn)行。
除4.1條a、b、j項(xiàng)的試驗(yàn)外,真空滅弧室應(yīng)裝在真空斷路器或等價(jià)的試驗(yàn)裝置上進(jìn)行試驗(yàn),真空來(lái)弧室與真空斷路器組裝后應(yīng)滿足第3.3條的要求。
4.4、外觀及外形尺寸檢查
檢查項(xiàng)目及方法由產(chǎn)品技術(shù)條件規(guī)定。
4.5、觸頭自閉力和在規(guī)定行程下觸頭反力的測(cè)量
測(cè)量方法:將被試真空滅弧室垂直地(動(dòng)導(dǎo)電桿在下方)固定在測(cè)試臺(tái)上,用測(cè)量機(jī)測(cè)量觸頭剛分離時(shí)和觸頭達(dá)到規(guī)定行程時(shí)的力,其值應(yīng)符合產(chǎn)品技術(shù)條件的要求。
至少在二組真空滅弧室上進(jìn)行測(cè)量。
4.6、縱向安全靜壓力試驗(yàn)
對(duì)一組真空滅弧室進(jìn)行試驗(yàn)。
將真空滅弧室垂直放在壓力試驗(yàn)機(jī)或其他測(cè)量裝置上,在動(dòng)端蓋板和靜端蓋板之間沿軸向均勻施加壓力,直至產(chǎn)品技術(shù)條件規(guī)定的值,維持3min,接觸壓力,靜置2h。真空滅弧室不應(yīng)有機(jī)械變形和損壞。
4.7、觸頭自閉力或額定觸頭壓力下,回路電阻的測(cè)量如下:
觸頭自閉力下回路電阻的測(cè)量:
在真空滅弧室的動(dòng)、靜觸頭處于自然閉合狀態(tài)下,按GB763及其第一號(hào)修訂的規(guī)定測(cè)量回路電阻。額定觸頭壓力下回路的測(cè)量:
在真空滅弧室的動(dòng)、靜導(dǎo)電桿間施加額定觸頭壓力,按GB763及其第一號(hào)修訂的規(guī)定測(cè)量回路電阻。
其值均應(yīng)符合產(chǎn)品技術(shù)條件的固定。至少應(yīng)在兩組真空滅弧室上進(jìn)行測(cè)量。
4.8、允許儲(chǔ)存期檢查
用外推法檢查2~3組真空滅弧室,允許儲(chǔ)存期應(yīng)不小于產(chǎn)品技術(shù)條件的規(guī)定值,測(cè)量方法按附錄A。
4.9、氣候試驗(yàn)及溫度變化試驗(yàn)
對(duì)一組真空滅弧室進(jìn)行試驗(yàn)。
4.9.1、高溫試驗(yàn)
按GB2423.2-81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法》進(jìn)行85℃,2H的溫度突變高溫試驗(yàn)。
4.9.2、低溫試驗(yàn)
按GB2423.1-81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法》進(jìn)行-55℃,2h的溫度突變低溫試驗(yàn)。
4.9.3恒定濕熱試驗(yàn)
按GB2423.3-81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)C:恒定濕熱試驗(yàn)方法》進(jìn)行2天恒定濕熱試驗(yàn)。
4.9.4溫度變化試驗(yàn)
按GB2423.22-81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法》的規(guī)定進(jìn)行125℃下暴露30min,室濕下暴露2h,2個(gè)循環(huán)的溫度變化試驗(yàn)。
4.9.5經(jīng)上訴試驗(yàn)后,真空滅弧室不應(yīng)有機(jī)械損傷。1min工頻耐壓值不應(yīng)低于GB311.1規(guī)定值。
4.10其他型式試驗(yàn)項(xiàng)目試驗(yàn)
其他型式試驗(yàn)項(xiàng)目包括:機(jī)械壽命試驗(yàn)、長(zhǎng)期工作時(shí)發(fā)熱試驗(yàn)、絕緣試驗(yàn)、短路開斷及關(guān)合能力試驗(yàn)、短路開短電流和額定電流開斷次數(shù)試驗(yàn)、開合電容器組電流試驗(yàn)、動(dòng)、熱穩(wěn)定試驗(yàn)等。試驗(yàn)錢應(yīng)將真空滅弧室裝于真空斷路器或等價(jià)的試驗(yàn)裝置中,組裝后應(yīng)滿足本技術(shù)條件3.3的要求。
上述試驗(yàn)的試驗(yàn)方法與所配的真空斷路器的有關(guān)試驗(yàn)項(xiàng)目相同。試驗(yàn)后除應(yīng)滿足真空斷路器對(duì)真空滅弧室的有關(guān)要求,還應(yīng)滿足下列規(guī)定:
a.機(jī)械壽命試驗(yàn)后,動(dòng)、靜導(dǎo)電桿不應(yīng)出現(xiàn)影響電氣及機(jī)械性能的明顯變形;
b.額定短路開斷電流和額定電流開斷次數(shù)試驗(yàn)后,觸頭磨損厚度不應(yīng)大于規(guī)定的允許值。
4.11、出廠檢查的項(xiàng)目及方法
4.11.1、外觀及外觀尺寸的檢查
檢查項(xiàng)目及方法由產(chǎn)品技術(shù)條件規(guī)定。
4.11.2、工頻耐壓試驗(yàn)
按GB311.1,GB311.2-83《高電壓試驗(yàn)技術(shù)第一部分一般試驗(yàn)條件和要求》,GB311.3-83《高電壓試驗(yàn)技術(shù)第二部分試驗(yàn)程序》的規(guī)定。
4.11.3、回路電阻的測(cè)量
按4.7條的規(guī)定。
4.11.4、觸頭自閉力測(cè)量
按4.5條的規(guī)定。
4.11.5、允許儲(chǔ)存檢查
按附錄A規(guī)定進(jìn)行。
5、標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸和貯存
5.1、銘牌
真空滅弧室上應(yīng)有清晰的銘牌,銘牌上應(yīng)標(biāo)有:
a.制造廠商標(biāo)和名稱;
b.產(chǎn)品型號(hào);
c.制造年、月、出廠編號(hào)。
5.2、包裝、運(yùn)輸和貯存
5.2.1、包裝箱內(nèi)應(yīng)附有產(chǎn)品合格證書,使用說(shuō)明書。
5.2.2、產(chǎn)品在運(yùn)輸、裝卸過(guò)程中,不得受到強(qiáng)烈震動(dòng)和碰撞。
5.2.3、產(chǎn)品應(yīng)儲(chǔ)存在通風(fēng)、干燥和沒有腐蝕性氣體的室內(nèi)。
5.2.4、產(chǎn)品在投入使用前應(yīng)按產(chǎn)品使用說(shuō)明書的規(guī)定進(jìn)行必要的檢查和試驗(yàn)。